低真空走査電子顕微鏡｜(JSM-IT500LA)（ていしんくうそうさでんしけんびきょう）

用途

各種工業材料の組成元素の存在状態、材料の表面状態などの解析

仕様

走査型電子顕微鏡を用いた表面拡大観察
電子線ブローブによるミクロ領域の表面形状測定
エネルギー分散型Ｘ線分析での観察面の元素の定性、分布解析
ミクロ領域の観察、計測

メーカー

日本電子株式会社

型式

JSM-IT500LA

機器分類

表面分析

利用区分

料金

3380円／時間

設置年度