ていしんくうそうさでんしけんびきょう

低真空走査電子顕微鏡|(JSM-IT500LA)
用途

各種工業材料の組成元素の存在状態、材料の表面状態などの解析
仕様

走査型電子顕微鏡を用いた表面拡大観察
電子線ブローブによるミクロ領域の表面形状測定
エネルギー分散型X線分析での観察面の元素の定性、分布解析
ミクロ領域の観察、計測
メーカー

日本電子株式会社
型式

JSM-IT500LA
機器分類

表面分析
利用区分

料金

1,340円/時間
設置年度