公開日 2011年03月07日
平成22年度に入り、新たに以下の機器を導入しました。
これらの機器は、今後開放機器として準備が整い次第、登録していきます。
・フィールドエミッションオージェ電子顕微鏡
・X線CT装置
・干渉膜厚計
・レーザー干渉平面度測定装置
・ガスクロマトグラフ質量分析装置
・試料断面研磨装置
・機構解析支援システム
機器の詳細については以下のPDFファイルをダウンロードすることでご覧いただけます。
公開日 2011年03月07日
平成22年度に入り、新たに以下の機器を導入しました。
これらの機器は、今後開放機器として準備が整い次第、登録していきます。
・フィールドエミッションオージェ電子顕微鏡
・X線CT装置
・干渉膜厚計
・レーザー干渉平面度測定装置
・ガスクロマトグラフ質量分析装置
・試料断面研磨装置
・機構解析支援システム
機器の詳細については以下のPDFファイルをダウンロードすることでご覧いただけます。