公開日 2018年02月16日
1.概 要
走査電子顕微鏡(以下「SEM」という)は、試料表面に電子線を走査させることで、試料表面の形状観察や元素分析ができる装置です。通常のSEM の場合、食品や生体材料等の水分を含む試料は観 察出来ません。しかし、今年度、当センターに導入された低真空SEM では、低真空モードにより、これら試料の観察が可能です。
本セミナーでは、SEM の基本的な原理や操作方法の説明に加え、良い画像を得る為の観察のコツや元素分析の方法などを、実習形式にて紹介致します。
開催日時・場所
1.日 程 平成 30 年 3 月 5 日(月)および 6 日(火) (2日間とも同じプログラムです)
2.時 間 10:00~16:00(予定)
3.会 場 地方独立行政法人山口県産業技術センター 会議室(3F)および表面解析研究室
(宇部市あすとぴあ4丁目1番1号)
4.参加費 無料
4.定 員 10名
対 象
SEM により工業材料等の表面観察及び元素分析を行われている方、その他SEM に興味のある方
講師及び研修プログラム
【講師】
日本電子株式会社 SM アプリケーション部 中嶌香織 氏
【プログラム】
装置紹介
低真空走査電子顕微鏡
JSM-IT500LA、日本電子(株)
※画像をクリックすると機器の詳細が見れます。
申込方法
PDFの申込書(2枚目)を記入のうえ、FAX またはEメールにてお申し込み下さい。
申込締切 2 月 23 日(金)
低真空走査電子顕微鏡活用セミナ-pdf(312KBytes)
お問い合わせ
技術相談室