蛍光Ｘ線分析装置（EDXRF）（けいこうえっくすせんぶんせきそうち（いーでぃー）
用途
試料中の金属成分を短時間で分析
試料の前処理はほとんど必要がなく、サイズの小さな試料も分析可能
元素のマッピング測定、薄膜の膜厚測定なども可能
仕様
Ｘ管球：ロジウム、タングステン
測定可能元素：Na～U
試料室雰囲気：大気または真空
試料室サイズ：600×350×260mm(WDH)
マッピング範囲：200×150mm
Ｘ線照射径：25μm
メーカー
Bruker AXS K.K.
型式
AXS M4 TORNADE-YS
機器分類
無機分析
利用区分
料金
1010円／時間
設置年度
平成23年度
