光散乱特性評価装置（ひかりさんらんとくせいひょうかそうち）
用途
金属や樹脂の板状製品に紫外～可視の連続光を照射し、入射する光の角度及び透過光・反射光の受光角度を変化させることで、光散乱特性を評価します。光学シミュレーション用BSDF出力が可能です（OpticStudio）。
仕様
測定波長：300～830nm
波長分解能：0.4nm
入射光源：キセノン、ハロゲン
入射光：±90°、受光：β±180°、θ±90°
メーカー
株式会社スペクトラ・コープ
型式
LOT-4AXIS-CG
機器分類
光測定
利用区分
料金
1250円／時間
設置年度
平成31年度
