波長分散型蛍光Ｘ線分析システム（上面型）（はちょうぶんさんがたけいこうえっくすせんぶんせきしすてむじょ）

用途

金属・セラミックス等の組成分析（定性・定量）

仕様

上面照射型（試料の上側からX線を照射）
測定可能元素：Be～U
マッピング分析機能

メーカー

株式会社リガク

型式

ZSX Primus IV

機器分類

無機分析

利用区分

料金

2940円／時間

設置年度

平成32年度